発明者,発明の名称,種別,状態,出願人,出願日,出願番号,公開日,公開番号,登録日,登録番号
"佐藤千明,松尾剛,掛井　祐伸,関口悠,内藤　昌信","界面破壊率測定装置、及び界面破壊率測定方法","特許","公開","国立大学法人東京工業大学, 国立研究開発法人 物質・材料研究機構","2023/07/27","PCT/JP2023/027482","2024/02/01","WO 2024/024870",,