In Situ X-ray Diffraction Measurements of the Post-spinel Transition Boundary in Mg2SiO4 by Multiple Internal Pressure Standards

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	In Situ X-ray Diffraction Measurements of the Post-spinel Transition Boundary in Mg2SiO4 by Multiple Internal Pressure Standards

著者

和文:	Fei, Y., Van Orman, J., Li, J., van Westrenen, W., Sanloup, C., Minarik, W., Hirose, K., Komabayashi, T., Walter, M., Funakoshi, K..
英文:	Fei, Y., Van Orman, J., Li, J., van Westrenen, W., Sanloup, C., Minarik, W., Hirose, K., Komabayashi, T., Walter, M., Funakoshi, K..

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Journal of Geophysical Research

巻, 号, ページ

Vol. 109 pp. doi:10.1029/2003JB002562

出版年月

2004年

出版者

和文:
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会議名称

和文:
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開催地

和文:
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