A New Specimen for Measuring the Interfacial Toughness of Al-0.5%Cu Thin Film on Si Substrate

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	A New Specimen for Measuring the Interfacial Toughness of Al-0.5%Cu Thin Film on Si Substrate

著者

和文:	Insu JEON, Masaki OMIYA, Hirotsugu INOUE, Kikuo KISHIMOTO, Tadashi ASAHINA.
英文:	Insu JEON, Masaki OMIYA, Hirotsugu INOUE, Kikuo KISHIMOTO, Tadashi ASAHINA.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Key Engineering Materials

巻, 号, ページ

Vol. 297-300 pp. 521-526

出版年月

2005年11月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:

DOI