Temperature and Time Dependence of Device Interactions in Submicron Si CMOS

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Temperature and Time Dependence of Device Interactions in Submicron Si CMOS

著者

和文:	畠山友行, 伏信一慶, 岡崎健.
英文:	T. Hatakeyama, K. Fushinobu, K. Okazaki.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proc. 9th AIAA/ASME Joint Thermophysics and Heat Transfer Conference

巻, 号, ページ

pp. AIAA-2006-3611

出版年月

2006年6月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	9th AIAA/ASME Joint Thermophysics and Heat Transfer Conference

開催地

和文:
英文:	San Francisco