Design and experimental characteristics of n-Si/CaF2/Au hot electron emitter for use in scanning hot electron microscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Design and experimental characteristics of n-Si/CaF2/Au hot electron emitter for use in scanning hot electron microscopy

著者

和文:	B. Y. Zhang, K. Furuya, Y. Ikeda, N. Kikegawa.
英文:	B. Y. Zhang, K. Furuya, Y. Ikeda, N. Kikegawa.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Jpn. J. Appl. Phys.

巻, 号, ページ

Vol. 38 No. 8 pp. 4887-4892

出版年月

1999年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文: