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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Impact of the Computational Boundary on the Coupled Thermal and Electrical Analysis of Si Devices 
著者
和文: 畠山, 岡崎, 伏信 一慶.  
英文: Hatakeyama, Okazaki, Fushinobu.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Proc. ITherm 2004 (CD-ROM) 
巻, 号, ページ         pp. Paper #285
出版年月 2004年 
出版者
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会議名称
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開催地
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