A MOS transistor-array for accurate measurement of subthreshold leakage variation

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	A MOS transistor-array for accurate measurement of subthreshold leakage variation

著者

和文:	佐藤高史, 上薗巧, 萩原汐, 岡田健一, 天川修平, 中山範明, 益一哉.
英文:	Takashi Sato, Takumi Uezono, Shiho Hagiwara, Kenichi Okada, Shuhei Amakawa, Noriaki Nakayama, Kazuya Masu.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

pp. 21-26

出版年月

2007年3月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)

開催地

和文:
英文:	San Jose, California