Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:3-D Design and Analysis of Functional NEMS-gate MOSFETs and SETs 
著者
和文: Pruvost Benjamin Henri Jose, 水田 博, 小田 俊理.  
英文: B. Pruvost, H. Mizuta, S. Oda.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:IEEE Transactions on Nanotechnology 
巻, 号, ページ Vol. 6 (2)        pp. 218-224
出版年月 2007年3月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 
DOI https://doi.org/10.1109/TNANO.2007.891825

©2007 Institute of Science Tokyo All rights reserved.