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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Non-invasive direct probing for on-chip voltage measurement 
著者
和文: 佐藤 高史, 山長 功, 益 一哉.  
英文: Takashi Sato, Koh Yamanaga, Kazuya Masu.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:International SoC design conference (ISOCC) 
巻, 号, ページ         pp. 350-353
出版年月 2008年11月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:International SoC design conference (ISOCC) 
開催地
和文: 
英文:Busan, Korea 
DOI https://doi.org/10.1109/SOCDC.2008.4815645

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