A Simple Through-Only De-Embedding Method for On-Wafer S-Parameter Measurements up to 110 GHz

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	A Simple Through-Only De-Embedding Method for On-Wafer S-Parameter Measurements up to 110 GHz

著者

和文:	伊藤浩之, 益一哉.
英文:	Hiroyuki Ito, Kazuya Masu.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEEE MTT-S International Microwave Symposium2008 (IMS 2008)

巻, 号, ページ

pp. 383-386

出版年月

2008年6月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	EEE MTT-S International Microwave Symposium2008 (IMS 2008)

開催地

和文:
英文:	Atlanta, USA

DOI