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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:On-chip differential and common mode voltage measurement using off-chip referenced twin probing 
著者
和文: 山長 功, 佐藤 高史, 益 一哉.  
英文: Koh Yamanaga, Takashi Sato, Masu Kazuya.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:12th SPI 
巻, 号, ページ         pp. 331-336
出版年月 2008年5月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:12th SPI 
開催地
和文: 
英文:France 
DOI https://doi.org/10.1109/SPI.2008.4558348

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