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論文・著書情報


タイトル
和文:クロスオーバによる電解質膜の劣化挙動解析とモデル化 
英文: 
著者
和文: 沈宰暎, 津島将司, 平井秀一郎.  
英文: Jae Young Shim, Shohji Tsushima, Shuichiro hirai.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:第45回伝熱シンポジウム 
英文: 
巻, 号, ページ         pp. 433-434
出版年月 2008年5月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:第45回伝熱シンポジウム 
英文: 
開催地
和文:筑波 
英文: 

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