Test Collections for Patent Retrieval and Patent Classification in the Fifth NTCIR Workshop

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Test Collections for Patent Retrieval and Patent Classification in the Fifth NTCIR Workshop

著者

和文:	藤井敦, 岩山真, 神門典子.
英文:	Atsushi Fujii, Makoto Iwayama, Noriko Kando.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proceedings of the 5th International Conference on Language Resources and Evaluation

巻, 号, ページ

pp. 671-674

出版年月

2006年5月

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

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