On-die parameter extraction from path-delay measurements

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	On-die parameter extraction from path-delay measurements

著者

和文:	高橋知之, 上薗巧, 新谷道広, 益一哉, 佐藤高史.
英文:	Tomoyuki Takahashi, Takumi Uezono, Michihiro Shintani, Kazuya Masu, Takashi Sato.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	2009 IEEE Asian Solid-State Circuits Conference

巻, 号, ページ

pp. 101 - 104

出版年月

2009年11月

出版者

和文:
英文:	IEEE Asian Solid-State Circuits Conference

会議名称

和文:
英文:	2009 IEEE Asian Solid-State Circuits Conference

開催地

和文:
英文:	Taipei, Taiwan

ファイル

DOI