Annealing-temperature Dependence of Compositional Depth Profiles and Chemical Bonding States of CeOx / LaOx/Si and LaOx/CeOx /Si Structure

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Annealing-temperature Dependence of Compositional Depth Profiles and Chemical Bonding States of CeOx / LaOx/Si and LaOx/CeOx /Si Structure

著者

和文:	野平博司, 今陽一郎, 北村幸司, 幸田みゆき, 角嶋邦之, 岩井洋.
英文:	Hiroshi Nohira, Yoichiro Kon, Koji Kitamura, Miyuki Kouda, Kuniyuki KAKUSHIMA, HIROSHI IWAI.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

vol. 25 No. 6 pp. 321-326

出版年月

2009年10月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	ECS 216th Meeting

開催地

和文:
英文:	Vienna, Austria