Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:SrO capping effect for La2O3/ Ce-Silicate gate dielectrics 
著者
和文: 角嶋邦之, 岡本晃一, 小柳友常, 幸田みゆき, 舘喜一, 川那子高暢, 宋在烈, パールハットアヘメト, 野平博司, 筒井一生, 杉井信之, 服部健雄, 岩井洋.  
英文: Kuniyuki KAKUSHIMA, Koichi Okamoto, Tomotsune Koyanagi, Miyuki Kouda, Kiichi Tachi, Takamasa Kawanago, Jaeyeol Song, Ahmet Parhat, Hiroshi Nohira, KAZUO TSUTSUI, Nobuyuki Sugii, takeo hattori, HIROSHI IWAI.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Microelectronics Reliability 50 
巻, 号, ページ         pp. 356-359
出版年月 2010年3月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 

©2007 Institute of Science Tokyo All rights reserved.