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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Automated Tests for Measuring Cognition and Aptitude in Introductory Programming 
著者
和文: ｱﾊﾞﾝｾﾆｱｴｲﾐｰ ﾃﾚｯｻ ｽﾜﾝ, 西原 明法.  
英文: Aimee Theresa S Avancena, Akinori Nishihara.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Global Learn 2010 
巻, 号, ページ        
出版年月 2010年5月 
出版者
和文: 
英文:AACE 
会議名称
和文: 
英文:Global Learn 2010 
開催地
和文: 
英文:Penang 

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