A Statistical Characterization of Carrier Frequency Offset and Timing Offset in OFDM Systems

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	A Statistical Characterization of Carrier Frequency Offset and Timing Offset in OFDM Systems

著者

和文:	Le Nam Tran, 高橋則行, 山田功.
英文:	Nam Tran LE, Noriyuki Takahashi, Isao Yamada.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proceedings of IEICE SIP Symposium 2010

巻, 号, ページ

in CD-ROM

出版年月

2010年11月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	IEICE SIP Symposium 2010

開催地

和文:
英文:	Nara

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