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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Admittance Measurement for a Quantum Point Contact in a Multi-terminal Quantum Hall Device 
著者
和文: 鷲尾 和久, 橋坂 昌幸, 鎌田 大, 村木 康二, 藤澤 利正.  
英文: K. Washio, M. Hashisaka, H. Kamata, K. Muraki, T. Fujisawa.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Japanese Journal of Applied Physics 
巻, 号, ページ vol. 50        04DJ04
出版年月 2011年4月 
出版者
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会議名称
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開催地
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