English
Home
各種検索
研究業績検索
論文・著書検索
( 詳細検索 )
特許検索
( 詳細検索 )
研究ハイライト検索
( 詳細検索 )
研究者検索
組織・担当から絞り込む
サポート
よくあるご質問(FAQ)
T2R2登録申請
学位論文登録について
組織単位データ出力について
(学内限定)
サポート・問合せ
T2R2について
T2R2とは?
運用指針
リーフレット
本文ファイルの公開について
関連リンク
東京科学大学
東京科学大学STARサーチ
国立情報学研究所(学術機関リポジトリ構築連携支援事業)
Home
>
ヘルプ
論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Model-based Fault Localization: Finding Behavioral Outliers in Large-scale Computing Systems
著者
和文:
丸山 直也
,
松岡 聡
.
英文:
Naoya Maruyama
,
Satoshi Matsuoka
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
New Generation Computing
巻, 号, ページ
Vol. 28 No. 3 pp. 237--255
出版年月
2010年7月
出版者
和文:
英文:
Ohmsha, Ltd.
会議名称
和文:
英文:
開催地
和文:
英文:
公式リンク
http://www.springerlink.com/content/h578471848530u68/
DOI
https://doi.org/10.1007/s00354-009-0088-6
©2007
Institute of Science Tokyo All rights reserved.