Effect of Transmission Line Modeling Using Different De-embedding Methods

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Effect of Transmission Line Modeling Using Different De-embedding Methods

著者

和文:	南亮, ﾊﾝﾁｬﾝｷﾞｮ, 松下幸太, 岡田健一, 松澤昭.
英文:	Ryo Minami, Changyo Han, Kota Matsushita, Kenichi Okada, Akira Matsuzawa.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2011年10月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	IEEE MTT-S European Microwave Conference (EuMC)

開催地

和文:
英文:	Manchester