&quot;Evaluation of L-2L De-embedding Method Considering Misalignment of Contact Position for Millimeter-wave CMOS Circuit Design&quot;

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	"Evaluation of L-2L De-embedding Method Considering Misalignment of Contact Position for Millimeter-wave CMOS Circuit Design"

著者

和文:	卜慶紅, 李寧, 岡田健一, 松澤昭.
英文:	Qing-Hong Bu, Ning Li, Kenichi OKADA, Akira Matsuzawa.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEICE Transactions on Electronics

巻, 号, ページ

Vol. E95-C No. 5 pp. 942-948

出版年月

2012年5月

出版者

和文:
英文:

会議名称

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英文:

開催地

和文:
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DOI