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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Reduction of base-collector capacitance in InP/InGaAs DHBT with buried SiO2 wires 
著者
和文: 武部直明, 宮本恭幸.  
英文: Naoaki Takebe, Y. Miyamoto.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:IEICE Trans. Electron. 
巻, 号, ページ vol. E95-C    no. 5    pp. 917-920
出版年月 2012年5月1日 
出版者
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会議名称
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開催地
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DOI https://doi.org/10.1587/transele.E95.C.917

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