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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Flaw Size and Position Measurement by Multiple Probe TOFD Method 
著者
和文: 黒川 悠, 井上 裕嗣.  
英文: Yu KUROKAWA, Hirotsugu INOUE.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2012年4月11日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:The 18th World Conference on Non Destructive Testing 
開催地
和文:ダーバン 
英文:Durban 

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