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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Detecting Method of Bulk Defects in DLC Films Using Light Scattering 
著者
和文: 櫻田 悠一, 高島 舞, 安原 鋭幸, 岩本 喜直, Makoto Matsuo, 大竹 尚登.  
英文: Yuichi Sakurada, Mai Takashima, Toshiyuki Yasuhara, Yoshinao Iwamoto, Makoto Matsuo, Naoto Ohtake.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Emerging Technology in Precision Engineering 
巻, 号, ページ         pp. 793-798
出版年月 2012年11月8日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:14th International Conference on Precision Engineering(ICPE2012) 
開催地
和文: 
英文:Hyogo 
DOI https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.523-524.793

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