Analysis and Measures on the Effect of Non-idealities in Switched-Capacitor Integrators with Correlated Double Sampling

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Analysis and Measures on the Effect of Non-idealities in Switched-Capacitor Integrators with Correlated Double Sampling

著者

和文:	ニコデムスレディアン, 榎本泰宏, 高木茂孝.
英文:	Nicodimus Retdian, Yasuhiro Enomoto, Shigetaka Takagi.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	CDROM

巻, 号, ページ

出版年月

2012年10月24日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	International Conference on Analog VLSI Circuits

開催地

和文:
英文:	Valencia