Thickness Dependence of Dielectric Properties in Bismuth Layer-structured Dielectrics

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Thickness Dependence of Dielectric Properties in Bismuth Layer-structured Dielectrics

著者

和文:	Kenji Takahashi, Muneyasu Suzuki, Takashi Kojima, Takayuki Watanabe, Yukio Sakashita, Kazumi Kato, 坂田修身, Kazushi Sumitani, 舟窪浩.
英文:	Kenji Takahashi, Muneyasu Suzuki, Takashi Kojima, Takayuki Watanabe, Yukio Sakashita, Kazumi Kato, OSAMI SAKATA, Kazushi Sumitani, Hiroshi Funakubo.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Appl. Phys. Lett.

巻, 号, ページ

Vol. 89 082901-1-3.

出版年月

2006年

出版者

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会議名称

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開催地

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DOI