Fabrication and evaluation of heavily P-doped Si quantum dot and back-gate induced Si quantum dot

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Fabrication and evaluation of heavily P-doped Si quantum dot and back-gate induced Si quantum dot

著者

和文:	神岡純, 小寺哲夫, 堀部浩介, 河野行雄, 小田俊理.
英文:	J.Kamioka, T. Kodera, K. Horibe, Y. Kawano, SHUNRI ODA.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2012年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop

開催地

和文:
英文:	Honolulu