English
Home
各種検索
研究業績検索
論文・著書検索
( 詳細検索 )
特許検索
( 詳細検索 )
研究ハイライト検索
( 詳細検索 )
研究者検索
組織・担当から絞り込む
サポート
よくあるご質問(FAQ)
T2R2登録申請
学位論文登録について
組織単位データ出力について
(学内限定)
サポート・問合せ
T2R2について
T2R2とは?
運用指針
リーフレット
本文ファイルの公開について
関連リンク
東京科学大学
東京科学大学STARサーチ
国立情報学研究所(学術機関リポジトリ構築連携支援事業)
Home
>
ヘルプ
論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Fermi surface of SrRuO3 thin films studied by in situ soft x-ray angle-resolved photoemission spectroscopy
著者
和文:
吉松 公平
,
坂井延寿
,
組頭 広志
,
藤森 淳
,
尾嶋 正治
.
英文:
K. Yoshimatsu
,
E. Sakai
,
H. Kumigashira
,
A. Fujimori
,
M. Oshima
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
巻, 号, ページ
P19
出版年月
2011年2月1日
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
The 4th Indo-Japan Seminar
開催地
和文:
英文:
Tokyo
©2007
Institute of Science Tokyo All rights reserved.