Electrostatic micromanipulation of a conductive particle by a single probe with consideration of an error in the evaluated mass

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Electrostatic micromanipulation of a conductive particle by a single probe with consideration of an error in the evaluated mass

著者

和文:	澤井賢司, 齋藤滋規.
英文:	Kenji SAWAI, Shigeki SAITO.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Journal of Micromechanics and Microengineering

巻, 号, ページ

Vol. 20 No. 2 pp. 025022(7pp)

出版年月

2010年1月18日

出版者

和文:
英文:	IOP

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:

DOI