Formation and annihilation of intrinsic defects induced by electronic excitation in high-purity crystalline SiO<sub>2</sub>

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Formation and annihilation of intrinsic defects induced by electronic excitation in high-purity crystalline SiO₂

著者

和文:	梶原浩一, SKUJA LINARDS, 細野秀雄.
英文:	Koichi Kajihara, Linards Skuja, Hideo Hosono.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	J. Appl. Phys

巻, 号, ページ

Vol. 113 No. 143511 pp. 1 - 4

出版年月

2013年

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

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