シリコン／弗化物共鳴トンネル構造を用いた抵抗スイッチング素子の特性評価

論文・著書情報

タイトル

和文:	シリコン／弗化物共鳴トンネル構造を用いた抵抗スイッチング素子の特性評価
英文:	Characterization of resistance switching devices using silicon / fluoride resonant tunneling structures

著者

和文:	平澤亮, 仲正路友康, 渡辺正裕.
英文:	R. Hirasawa, Y. Nakasyouji, M. Watanabe.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

30a-ZB-5 3 1425

出版年月

2009年3月30日

出版者

和文:
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会議名称

和文:	第56回応用物理学会関係連合講演会
英文:	Nat. Conv. Rec. of the 56th Spring Meeting of The Jpn. Soc. of Appl. Phys

開催地

和文:	筑波
英文:	Tsukuba