デバイスシミュレーションによるAlGaN/GaN系FinFETsにおけるスケーリング則の検証

論文・著書情報

タイトル

和文:	デバイスシミュレーションによるAlGaN/GaN系FinFETsにおけるスケーリング則の検証
英文:

著者

和文:	Yoon Minjae, 寺山一真, 中島昭, 西澤伸一, 大橋弘通, 角嶋邦之, 若林整, 筒井一生, 岩井洋.
英文:	Yoon Minjae, Kazuma Terayama, 中島昭, 西澤伸一, 大橋弘通, Kuniyuki KAKUSHIMA, Hitoshi Wakabayashi, KAZUO TSUTSUI, HIROSHI IWAI.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2014年

出版者

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会議名称

和文:	第61回応用物理学会春季学術講演会
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開催地

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