Characterization of Crossing Transmission Line Using Two-Port Measurements for Millimeter-Wave CMOS Circuit Design

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Characterization of Crossing Transmission Line Using Two-Port Measurements for Millimeter-Wave CMOS Circuit Design

著者

和文:	Tokgoz KorkutKaan, LIM KIMSRUN, 河合誠太郎, NURUL FAJRI, 岡田健一, 松澤昭.
英文:	Korkut Kaan Tokgoz, Kimsrun Lim, Seitaro Kawai, Nurul Fajri, Kenichi Okada, Akira Matsuzawa.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEICE Transactions on Electronics

巻, 号, ページ

Vol. E98-C No. 1 pp. 35-44

出版年月

2015年1月

出版者

和文:
英文:	IEICE

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:

DOI