水素終端シリコン表面における原子レベル細線と特性 | T2R2 東京科学大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	水素終端シリコン表面における原子レベル細線と特性
英文:

著者

和文:	橋詰富博, 平家誠嗣, 一杉太郎, 松浦志のぶ, 渡邊聡, 市村雅, 諏訪雄二, 小野木敏之.
英文:	橋詰富博, 平家誠嗣, Taro Hitosugi, 松浦志のぶ, 渡邊聡, 市村雅, 諏訪雄二, 小野木敏之.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	ニュースレター（応用物理学会薄膜･表面分科会誌）
英文:

巻, 号, ページ

Vol. 105 pp. 18-25

出版年月

1999年

出版者

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会議名称

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開催地

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英文:

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