Evaluating tolerance of applications against realistic DRAM faults

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Evaluating tolerance of applications against realistic DRAM faults

著者

和文:	小林佑矢, 實本英之, 野村哲弘, 松岡聡.
英文:	Yuya Kobayashi, HIDEYUKI JITSUMOTO, Akihiro Nomura, SATOSHI MATSUOKA.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2016年5月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	The 25th International Symposium on High-Performance Parallel and Distributed Computing

開催地

和文:	京都
英文:	Kyoto

公式リンク