半導体ナノスケール構造欠陥中の光キャリア寿命と欠陥準位密度 | T2R2 東京科学大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	半導体ナノスケール構造欠陥中の光キャリア寿命と欠陥準位密度
英文:

著者

和文:	福本恵紀, 恩田健, 腰原伸也.
英文:	福本恵紀, Ken Onda, Shin-ya Koshihara.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2016年3月19日

出版者

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会議名称

和文:	応用物理学会春季学術講演会
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開催地

和文:	東京
英文:

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