Correlation between Electronic Structures and Instabilities in Amorphous Oxide Semiconductors: Strategies for High-Performance and Stable AOS-TFTs

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Correlation between Electronic Structures and Instabilities in Amorphous Oxide Semiconductors: Strategies for High-Performance and Stable AOS-TFTs

著者

和文:	金正煥, 神谷利夫, 細野秀雄.
英文:	Junghwan Kim, Toshio Kamiya, Hideo Hosono.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IMID 2017 DIGEST

巻, 号, ページ

p. 266

出版年月

2017年8月28日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	International Meeting on Information Display (IMID)

開催地

和文:
英文:	Busan