微細半導体プロセスにおけるシングルイベント耐性強化技術の検討

論文・著書情報

タイトル

和文:	微細半導体プロセスにおけるシングルイベント耐性強化技術の検討
英文:	A Study of Single Event Mitigation Techniques for Nano-Scale Semiconductor Devices

著者

和文:	丸明史, 松田晃史, 吉本護.
英文:	Akifumi Maru, Akifumi Matsuda, MAMORU YOSHIMOTO.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2018年3月5日

出版者

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会議名称

和文:	2018年第65回応用物理学会春季学術講演会
英文:	The 65th JSAP Spring Meeting, 2018

開催地

和文:	東京
英文:	Tokyo

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