Admittance Measurement for a Quantum Point Contact in Multiterminal Quantum Hall Device

論文・著書情報

タイトル

和文:	Admittance Measurement for a Quantum Point Contact in Multiterminal Quantum Hall Device
英文:	Admittance Measurement for a Quantum Point Contact in Multiterminal Quantum Hall Device

著者

和文:	Washio, K., Hashisaka, M., Kamata, H., Muraki, K., Fujisawa, T., 藤澤利正.
英文:	Washio, K., Hashisaka, M., Kamata, H., Muraki, K., Fujisawa, T., Toshimasa Fujisawa.

言語

English

掲載誌/書名

和文:	Japanese Journal of Applied Physics
英文:	Japanese Journal of Applied Physics

巻, 号, ページ

Vol. 50 No. 4

出版年月

2011年

出版者

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会議名称

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開催地

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