Electrically Benign Defect Behavior in Zinc Tin Nitride Revealed from First Principles

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Electrically Benign Defect Behavior in Zinc Tin Nitride Revealed from First Principles

著者

和文:	角田直樹, 熊谷悠, 高橋亮, 大場史康.
英文:	Naoki Tsunoda, Yu Kumagai, Akira Takahashi, Fumiyasu Oba.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Physical Review Applied

巻, 号, ページ

vol. 10 pp. 011001-1-6

出版年月

2018年7月2日

出版者

和文:
英文:	American Physical Society

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:

公式リンク

DOI