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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Study on defects in amorphous oxide semiconductor, a-In-Ga-Zn-O 
著者
和文: 井手啓介.  
英文: Keisuke Ide.  
種別
種別:学位論文(博士) 
国名:Japan 
言語 English 
学位授与組織 Tokyo Institute of Technology 
報告番号 乙第4146号 
学位授与日 2017/09/30 
審査員  

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