Decay pathways after Xe 3d inner shell ionization using a multi-electron coincidence technique

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Decay pathways after Xe 3d inner shell ionization using a multi-electron coincidence technique

著者

和文:	I. H. Suzuki, Y. Hikosaka, E. Shigemasa, P. Lablanquie, F. Penent, K. Soejima, 中野元善, 河内宣之, K. Ito.
英文:	I. H. Suzuki, Y. Hikosaka, E. Shigemasa, P. Lablanquie, F. Penent, K. Soejima, M. Nakano, N. Kouchi, K. Ito.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Journal of Physics B: Atomic, Molecular and Optical Physics

巻, 号, ページ

Vol. 44 No. 7 075003

出版年月

2011年3月29日

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
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