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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Study on perpendicular exchange bias in sputter-deposited CoO/CoPt multilayers 
著者
和文: 史 蹟, J. Wang, 三宮 工, Y. Nakamura.  
英文: J. Shi, J. Wang, T. Sannomiya, Y. Nakamura.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2014年9月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:International Microscopy Congress 
開催地
和文: 
英文:Prague 

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