Demonstrations of polarization imaging capability and novel functionality of polarization-analyzing CMOS image sensor with 65 nm standard CMOS process

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Demonstrations of polarization imaging capability and novel functionality of polarization-analyzing CMOS image sensor with 65 nm standard CMOS process

著者

和文:	德田崇, 笹川清隆, N. Wakama, 野田俊彦, K. Kakiuchi, 太田淳.
英文:	T. Tokuda, K. Sasagawa, N. Wakama, T. Noda, K. Kakiuchi, J. Ohta.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	ITE Transactions on Media Technology and Applications

巻, 号, ページ

Vol. 2 pp. 131-138

出版年月

2014年

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
英文: