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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:An extraction method of charge trapping site distribution in AlGaN layer in GaN HEMT 
著者
和文: Baba, T., Kakushima, K., 若林整, Tsutsui, K., Iwai, H..  
英文: Baba, T., Kakushima, K., Hitoshi Wakabayashi, Tsutsui, K., Iwai, H..  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:WiPDA 2015 - 3rd IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications 
巻, 号, ページ         pp. 125-128
出版年月 2015年 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 
DOI https://doi.org/10.1109/WiPDA.2015.7369253

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