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論文・著書情報


タイトル
和文:全波形サンプリング処理方式を利用した散乱振幅からの欠陥再構成 
英文: 
著者
和文: 中畑 和之, 平田 正憲, 廣瀬壮一.  
英文: 中畑 和之, 平田 正憲, SOHICHI HIROSE.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:非破壊検査 : journal of N.D.I 
英文: 
巻, 号, ページ Vol. 59    No. 6    pp. 277-283
出版年月 2010年6月1日 
出版者
和文:一般社団法人 日本非破壊検査協会 
英文: 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 
DOI https://doi.org/10.11396/jjsndi.59.277

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