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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Reliability of SiC Schottky Diodes with Mo2C Electrode 
著者
和文: 齋藤 大樹, 宗田 伊理也, 星井 拓也, 若林 整, 筒井 一生, 岩井 洋, 角嶋 邦之.  
英文: D. Saito, I. Muneta, T. Hoshii, H. Wakabayashi, K. Tsutsui, H. Iwai, K. Kakushima.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2018年5月 
出版者
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会議名称
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英文:ECS Meeting 
開催地
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英文: 

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