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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:A Characterization of All Retrofit Controllers 
著者
和文: 笹原 帆平, 石崎 孝幸, 井上 正樹, 定本 知徳, 井村 順一.  
英文: Hampei Sasahara, Takayuki Ishizaki, Masaki Inoue, Tomonori Sadamoto, Jun-ichi Imura.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Proc. of 2018 American Control Conference 
巻, 号, ページ         pp. 6194-6199
出版年月 2018年6月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:2018 Annual American Control Conference,(ACC 2018) 
開催地
和文: 
英文:Milwauke, USA 

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