2-D inverse scattering analysis for a defect in FRP

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	2-D inverse scattering analysis for a defect in FRP

著者

和文:	小野寺貴, 斎藤隆泰, 廣瀬壮一.
英文:	Takashi Onodera, Takahiro Saitoh, SOHICHI HIROSE.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proc. the 6th Japan-US Symposium

巻, 号, ページ

Page 6

出版年月

2018年7月11日

出版者

和文:
英文:	The Japanese Society for Non-Destructive Inspection

会議名称

和文:
英文:	The 6th Japan-US Symposium - Emerging NDE Capabilities for a Safer World

開催地

和文:
英文:	Hawaii